正確で実用的な知見の活用と生産性の向上によってアナログ設計を効率化
アナログミックスドシグナル(AMS)半導体は、信号周波数の上昇、設計規模の拡大、先端半導体製造プロセスの高度な要求といった課題に直面しています。これらの要因により、インターコネクト配線には複雑かつ非線形な複数の物理領域にまたがる問題が生じ、設計チームはその正確なモデル化に苦慮しています。インターコネクトが回路の性能に与える影響は非常に大きいため、設計を成功させるには、電磁界、RF、熱、光学、寄生、電圧降下、信頼性、電力、およびその他のマルチフィジックス相互作用を正確にモデル化することが不可欠となっています。
マルチダイ(3D-IC)システムおよびメモリなどの大規模な設計の場合でも、レイアウトの反復ごとにインターコネクトモデルを再抽出し、パッケージ/システムの相互作用を含む、関連するすべての物理現象を組み込む必要があります。
マルチフィジックスインターコネクトの課題に対して、成熟した戦略的ソリューションを提供するAnsysのAMS製品群は、すべての主要ファウンドリから認定を受けています。
AMS設計のデバッグは、手動による非効率で時間のかかるプロセスとなることが多く、設計コストの大幅な増加を招いています。Ansysは、高度な根本原因解析(寄生要因の特定)によって設計の収束を加速させます。これにより、チームは修正点を迅速に特定し、納期を守りながら、チップの性能を最適化し、製品の信頼性を確保することができます。