ANSYS Pharos

ANSYS Pharos

电磁串扰识别

ANSYS Pharos 是一种创新型电磁 (EM) 串扰网络/块体识别软件,使 IC 设计人员能够快速准确地发现易受电磁和基板串扰影响的网络。

Pharos 将 ANSYS 无限提取引擎容量与专有的仿真引擎相结合,可执行电磁分析,并提供每个受干扰网络的潜在电磁串扰干扰源排名。通过突出最易受影响的网络,设计人员可以将电磁分析集中在设计中最关键的网络上。

为什么使用 Pharos?

使用 Pharos,您可以:

  • 提取非常大的块体和 SoC,周转速度快
  • 对大规模设计块体进行超快速分析
  • 快速轻松地做出设计决策,掌控电磁串扰
  • 针对不同的运行条件尝试各种“假设”场景

识别易受电磁和基板串扰影响的网络

磁场干扰范围广,增加了设计复杂性,使得要识别所有易受电磁串扰影响的受干扰对象/干扰源网络对非常有挑战性(如果不是不可能的话)。Pharos 根据选定的受干扰网络和设计中所有潜在的干扰源之间的电磁隔离来分析设计。它返回每个受干扰网络的所有潜在电磁串扰干扰源网络的排名,从最强到最弱排列。

Pharos 使设计师能够:

  • 快速识别每个受干扰网络的所有潜在干扰源
  • 专注于在关键的受干扰/干扰源对之间执行详细的电磁分析
  • 在不同频率点执行电路仿真,以识别电磁串扰风险区域
  • 发布用于布局或原理图的 ECO,以基于准确结果将串扰的影响最小化

块级分析和 SoC 交付

Pharos 可以进行块级分析,也可以进行 SoC 级交付。

在块级,Pharos 分析一个块体或一组块体,报告与干扰源/受干扰对之间的电磁和基板串扰相关的风险。这些网络或许分属于不同的块体甚至可能是不同的设计架构。

作为一种交付工具,Pharos 分析整个 SoC,并报告与设计的敏感部分强烈耦合的干扰源网络的电磁串扰风险。对这些网络进行标记,然后重新设计,促进 EM 感知交付 ECO。

多个报告有助于降低设计流程的风险

Pharos 提供各种报告,包括受干扰/干扰源网络对的排名列表及其潜在的串扰干扰值。可以使用脚本对文本报告进行后处理,以便从分析数据中提取更有意义的信息。

Pharos 还在布局上提供“热图”结果。根据每个干扰源对受干扰对象的电磁串扰强度,它会显示一个梯度以及两个色标(红色表示高耦合,蓝色表示低耦合),以突出显示干扰源网络通过/不通过。